便攜式數字探傷儀如何調試雙晶探頭

聯(lián)合雙探頭（分割型探頭）俗稱(chēng)雙晶探頭。分為接觸式縱波聯(lián)合雙探頭和接觸式橫波聯(lián)合雙探頭。即雙晶直探頭和雙晶斜探頭。雙晶探頭的結構是兩個(gè)單探頭的組合一個(gè)用于發(fā)射一個(gè)用于接收發(fā)射電脈沖不進(jìn)入接收電路，因此不受探傷儀器放大器的阻塞影響可以探測近表面缺陷。收發(fā)探頭都有各自的延遲塊而且兩個(gè)延遲塊的聲束入射平面均帶一傾角傾角的大小則取決于要探測區域距探測面的深度。本文介紹的是友聯(lián)探傷儀雙晶探頭調試方法。

所選探頭和試塊

1．雙晶探頭：5P20FG  F10

2．試塊：階梯試塊

操作步驟

一．開(kāi)機

開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)，按<¿>鍵進(jìn)入探傷界面將探頭分別與儀器的收發(fā)端連接使儀器處于正常工作狀態(tài)。

二．選擇通道號

按<通道>鍵在“通道”調節狀態(tài)下再按<╋>或<━>鍵選擇某一通道。

三．參數清零

在功能菜單中選擇“0初始化”初始化當前通道。

四．設置參數

在設置菜單中設置探頭類(lèi)型為“雙晶探頭”探頭頻率為5MHz晶片尺寸為20.0按<確認>鍵退出設置菜單。

五．調試

（一）測零點(diǎn)（測聲速）

在測試菜單中選中“1測零點(diǎn)聲速”預置工件聲速為“5900 m/s”一次回波聲程輸入12mm二次回波聲程為24mm（或選擇與探頭焦點(diǎn)深度相近的試塊上兩處底波作為一次聲程與二次聲程）按<確認>鍵開(kāi)始測試。找到階梯試塊上深12mm處的大平底波將探頭在上面移動(dòng)由于雙晶探頭零點(diǎn)較長(cháng)目標回波可能不在門(mén)內甚至不在屏幕顯示范圍內此時(shí)可調節聲程、門(mén)位使波處于門(mén)內再按<返回>鍵恢復測試。當其一次回波出現在進(jìn)波門(mén)內時(shí)確認穩住探頭不動(dòng)等12mm處二次回波上升至80%時(shí)（一般二次回波已預置在門(mén)內）再次確認，按<y>存儲測試數據。

（二）雙晶探頭DAC

如需制作DAC曲線(xiàn)在零點(diǎn)聲速測完后可在測試菜單中選中“3制作DAC”根據相應參考試塊制作。制作方法參見(jiàn)斜探頭DAC法。

注：        雙晶探頭存在焦點(diǎn)深度測零點(diǎn)聲速時(shí)注意選取與焦點(diǎn)深度接近的試塊作為一次聲程否則測得的零點(diǎn)聲速誤差可能較大。

因為焦點(diǎn)附近的回波最高由薄至厚制作DAC曲線(xiàn)所做出曲線(xiàn)與常規斜探頭DAC曲線(xiàn)形狀有可能不同（可能呈山峰狀）。

上一篇：友聯(lián)超聲波探傷儀通道設置鍵的操作使用

下一篇：沒(méi)有下一篇了